Skip to main navigation Skip to search Skip to main content

Net charge fluctuations in Au + Au interactions at √SNN = 130 GeV

  • K. Adcox
  • , S. S. Adler
  • , N. N. Ajitanand
  • , Y. Akiba
  • , J. Alexander
  • , L. Aphecetche
  • , Y. Arai
  • , S. H. Aronson
  • , R. Averbeck
  • , T. C. Awes
  • , K. N. Barish
  • , P. D. Barnes
  • , J. Barrette
  • , B. Bassalleck
  • , S. Bathe
  • , V. Baublis
  • , A. Bazilevsky
  • , S. Belikov
  • , F. G. Bellaiche
  • , S. T. Belyaev
  • M. J. Bennett, Y. Berdnikov, S. Botelho, M. L. Brooks, D. S. Brown, N. Bruner, D. Bucher, H. Buesching, V. Bumazhnov, G. Bunce, J. Burward-Hoy, S. Butsyk, T. A. Carey, P. Chand, J. Chang, W. C. Chang, L. L. Chavez, S. Chernichenko, C. Y. Chi, J. Chiba, M. Chiu, R. K. Choudhury, T. Christ, T. Chujo, M. S. Chung, P. Chung, V. Cianciolo, B. A. Cole, D. G. D'Enterria, G. David, H. Delagrange, A. Denisov, A. Deshpande, E. J. Desmond, O. Dietzsch, B. V. Dinesh, A. Drees, A. Durum, D. Dutta, K. Ebisu, Y. V. Efremenko, K. El Chenawi, H. En'yo, S. Esumi, L. Ewell, T. Ferdousi, D. E. Fields, S. L. Fokin, Z. Fraenkel, A. Franz, A. D. Frawley, S. Y. Fung, S. Garpman, T. K. Ghosh, A. Glenn, A. L. Godoi, Y. Goto, S. V. Greene, M. Grosse Perdekamp, S. K. Gupta, W. Guryn, H. A. Gustafsson, J. S. Haggerty, H. Hamagaki, A. G. Hansen, H. Hara, E. P. Hartouni, R. Hayano, N. Hayashi, X. He, T. K. Hemmick, J. M. Heuser, M. Hibino, J. C. Hill, D. S. Ho, K. Homma, B. Hong, A. Hoover, T. Ichihara, K. Imai, M. S. Ippolitov, M. Ishihara, B. V. Jacak, W. Y. Jang, J. Jia, B. M. Johnson, S. C. Johnson, K. S. Joo, S. Kametani, J. H. Kang, M. Kann, S. S. Kapoor, S. Kelly, B. Khachaturov, A. Khanzadeev, J. Kikuchi, D. J. Kim, H. J. Kim, S. Y. Kim, Y. G. Kim, W. W. Kinnison, E. Kistenev, A. Kiyomichi, C. Klein-Boesing, S. Klinksiek, L. Kochenda, V. Kochetkov, D. Koehler, T. Kohama, D. Kotchetkov, A. Kozlov, P. J. Kroon, K. Kurita, M. J. Kweon, Y. Kwon, G. S. Kyle, R. Lacey, J. G. Lajoie, J. Lauret, A. Lebedev, D. M. Lee, M. J. Leitch, X. H. Li, Z. Li, D. J. Lim, M. X. Liu, X. Liu, Z. Liu, C. F. Maguire, J. Mahon, Y. I. Makdisi, V. I. Manko, Y. Mao, S. K. Mark, S. Markacs, G. Martinez, M. D. Marx, A. Masaike, F. Matathias, T. Matsumoto, P. L. McGaughey, E. Melnikov, M. Merschmeyer, F. Messer, M. Messer, Y. Miake, T. E. Miller, A. Milov, S. Mioduszewski, R. E. Mischke, G. C. Mishra, J. T. Mitchell, A. K. Mohanty, D. P. Morrison, J. M. Moss, F. Mühlbacher, M. Muniruzzaman, J. Murata, S. Nagamiya, Y. Nagasaka, J. L. Nagle, Y. Nakada, B. K. Nandi, J. Newby, L. Nikkinen, P. Nilsson, S. Nishimura, A. S. Nyanin, J. Nystrand, E. O'Brien, C. A. Ogilvie, H. Ohnishi, I. D. Ojha, M. Ono, V. Onuchin, A. Oskarsson, L. Österman, I. Otterlund, K. Oyama, L. Paffrath, A. P.T. Palounek, V. S. Pantuev, V. Papavassiliou, S. F. Pate, T. Peitzmann, A. N. Petridis, C. Pinkenburg, R. P. Pisani, P. Pitukhin, F. Plasil, M. Pollack, K. Pope, M. L. Purschke, I. Ravinovich, K. F. Read, K. Reygers, V. Riabov, Y. Riabov, M. Rosati, A. A. Rose, S. S. Ryu, N. Saito, A. Sakaguchi, T. Sakaguchi, H. Sako, T. Sakuma, V. Samsonov, T. C. Sangster, R. Santo, H. D. Sato, S. Sato, S. Sawada, B. R. Schlei, Y. Schutz, V. Semenov, R. Seto, T. K. Shea, I. Shein, T. A. Shibata, K. Shigaki, T. Shiina, Y. H. Shin, I. G. Sibiriak, D. Silvermyr, K. S. Sim, J. Simon-Gillo, C. P. Singh, V. Singh, M. Sivertz, A. Soldatov, R. A. Soltz, S. Sorensen, P. W. Stankus, N. Starinsky, P. Steinberg, E. Stenlund, A. Ster, S. P. Stoll, M. Sugioka, T. Sugitate, J. P. Sullivan, Y. Sumi, Z. Sun, M. Suzuki, E. M. Takagui, A. Taketani, M. Tamai, K. H. Tanaka, Y. Tanaka, E. Taniguchi, M. J. Tannenbaum, J. Thomas, J. H. Thomas, T. L. Thomas, W. Tian, J. Tojo, H. Torii, R. S. Towell, I. Tserruya, H. Tsuruoka, A. A. Tsvetkov, S. K. Tuli, H. Tydesjö, N. Tyurin, T. Ushiroda, H. W. van Hecke, C. Velissaris, J. Velkovska, M. Velkovsky, A. A. Vinogradov, M. A. Volkov, A. Vorobyov, E. Vznuzdaev, H. Wang, Y. Watanabe, S. N. White, C. Witzig, F. K. Wohn, C. L. Woody, W. Xie, K. Yagi, S. Yokkaichi, G. R. Young, I. E. Yushmanov, W. A. Zajc, Z. Zhang, S. Zhou
  • Vanderbilt University
  • Brookhaven National Laboratory
  • Stony Brook University
  • High Energy Accelerator Research Organization, Tsukuba
  • SUBATECH
  • Oak Ridge National Laboratory
  • University of California at Riverside
  • Los Alamos National Laboratory
  • McGill University
  • University of New Mexico
  • University of Münster
  • Petersburg Nuclear Physics InstituteGatchina
  • Institute for High Energy Physics
  • Brookhaven National Lab
  • Iowa State University
  • Russian Research Centre Kurchatov Institute
  • Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University
  • Universidade de São Paulo
  • New Mexico State University
  • Homi Bhabha National Institute
  • Academia Sinica - Institute of Physics
  • Columbia University
  • University of Tsukuba
  • Korea University
  • Nagasaki Institute of Applied Science
  • Kyoto University
  • RIKEN
  • Weizmann Institute of Science
  • Florida State University
  • Lund University
  • University of Tennessee
  • The University of Tokyo
  • Lawrence Livermore National Laboratory
  • Georgia State University
  • Waseda University
  • Yonsei University
  • Hiroshima University
  • Myongji University
  • China National Nuclear Corporation
  • Banaras Hindu University
  • Institute of Science Tokyo
  • Wigner Research Centre for Physics

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

84 Scopus citations

Abstract

The results from an analysis of net charge fluctuations for particles produced in Au+Au interactions at √sNN=130 GeV. The fluctuations are studied in the variables R=n+/n-, the ratio between positive and negative particles, and Q=n+-n-, the net charge. This paper discusses the advantages and disadvantages of these variables.

Original languageEnglish
Article number082301
Pages (from-to)082301/1-082301/6
JournalPhysical Review Letters
Volume89
Issue number8
DOIs
StatePublished - Aug 19 2002

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Net charge fluctuations in Au + Au interactions at √SNN = 130 GeV'. Together they form a unique fingerprint.

Cite this